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宜特检测芯片失效分析检测

文章来源:http://www.istgroup.com 上传时间:2017-09-29浏览次数:
文章摘要:芯片失效分析,芯片故障分析,上海芯片失效分析公司,宜特检测失效分析失效分析(FailureAnalysisorFA)所提供的服务项目提供客户咨询与讨论提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析),PFA(物性故障分析)等所需

芯片失效分析,芯片故障分析,上海芯片失效分析公司,宜特检测

失效分析

失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目

  • 提供客户咨询与讨论

  • 提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需资源与设备

  • 提供客户一步到位的分析服务

  • 提供第三者公证报告

可协助解决的故障分析的种类

  • ESD / Latch up / OLT / Pre-condition /Reliability 等测试后的失效分析服务

  • 验退样品分析服务或对产品瑕疵原因之分析服务

  • C/P , F/T ,PCBA 等流程后之样品分析服务

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关于宜特:

iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

免费咨询电话:8009880501

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