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宜特检测Decap芯片去胶试验

文章来源:http://www.istgroup.com 上传时间:2017-11-01浏览次数:
文章摘要:芯片去胶(Decap)工作原理:化学蚀刻开盖:在IC封装胶体上,利用化学溶液,蚀刻一个大小及深度适中的区域,使打线或晶粒裸露,且不破坏及改变样品原来电性。雷射蚀刻开盖:利用雷射去除IC封装胶体,较一般化学蚀刻开盖定位精细,与化学蚀

芯片去胶(Decap)

工作原理:
化学蚀刻开盖 : 在IC封装胶体上,利用化学溶液,蚀刻一个大小及深度适中的区域,使打线或晶粒裸露,且不破坏及改变样品原来电性。
雷射蚀刻开盖 : 利用雷射去除IC封装胶体,较一般化学蚀刻开盖定位精细,与化学蚀刻搭配使用,可减少样品与化学蚀刻液的接触时间,藉此提升实验良率。

应用:
通常为实验分析之第一步骤,后续实验可接续:外观异常检视 / 层次去除 / FIB / EMMI / 封装打线等等。

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关于宜特:

iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

芯片去胶(Decap)