I-V 电特性量测 (I-V Curve)

I-V Curve 电特性量测原理是 ，利用自动曲线追纵仪电特性量测的方式，快速计算阻值，藉此确认各脚位(Pin)关系并实时筛检出异常(Open / Short)，另可产出曲线图文件。 

• 提供DC组件及导体组件特性量测、电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、测I-V、量曲线及曲线绘图(IV Curve)，其特点是可一次量测样品各脚位的阻値差异，脚数相当多达相当多1024 Pins 。

iST 宜特服务优势

• 支持度高，建置多种封装形式的Socket。

• 快速便利，可快速比对出电性异常的脚位，并分类故障原因。

• 弹性量测方式，有多种量测模式可选择。(EX: Pin-all, Pin-pin)。

关于宜特：

iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室14个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

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I-V 电特性量测 (I-V Curve)