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宜特检测3D X-ray检测

文章来源:www.istgroup.com 上传时间:2018-01-18浏览次数:
文章摘要:3DX-ray检测,3DX-ray显微镜检测,宜特检测超高解析度3DX-Ray显微镜超高解析度3DX-Ray显微镜(HighResolution3DX-RayMicroscope)是以非破坏性X射线透视的技术,再搭配光学物镜提高放

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超高解析度3D X-Ray显微镜

超高解析度3D X-Ray显微镜(High Resolution 3D X-Ray Microscope)是以非破坏性X射线透视的技术,再搭配光学物镜提高放大倍率进行实验检测,其实验过程是将待测物体固定后进行360°旋转,在这过程中收集各个不同角度的2D穿透影像,之后利用计算机运算重构出待测物体之实体影像。透过软件,可针对待测物体进行断层分析,将内部结构逐一切割及显现各层不同深度,使微小缺点能更清晰地显现出来,进而达到判别缺点的目的。

主要应用:

  • IC封装中的缺点检验如:打线的完整性检验、电测异常(open/short) 、黑胶的裂痕、银胶及黑胶的气泡。 

  • 印刷电路板及载板制程中可能产生的缺点,如﹕线路对齐不良或桥接以及开路、电镀孔制程质量检验、多层板各层线路配置分析。 

  • 各式电子产品中可能产生的开路,短路或不正常连接的缺点检验。 

  • 锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验:如锡球变形、锡裂、锡球空冷焊、锡球短路、锡球气泡。 

  • 密度较高的塑料材质破裂或金属材质空洞检验。 

  • 各式主、被动组件检测分析。 

  • 各种材料结构检验分析及尺寸量测。

iST实验室优势: 

  • 宜特为台湾首家建立3D X-Ray检测服务的实验室,拥有完整专业技术及测试经验。

  • 业界特高阶的3D X-Ray实验设备,高解析度的实验影像质量。

  • 20X光学物镜提升实验的放大倍率。 

设备限制: 

  • X-Ray物理特性限制下的低密度材料会无法检视。

  • 样品尺寸必须小于300mm,较大承受重量<15KG。 

设备限制: 

  • X-Ray物理特性限制下的低密度材料会无法检视。 

  • 样品尺寸必须小于300mm,较大承受重量<15KG。 

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关于宜特:

iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线验证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。

免费服务热线:8009880501

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