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点针垫侦错 (CAD Probe Pad)
FIB可在IC上做讯号撷取点。利用FIB将要量取之讯号点拉到IC表面，并利用机械式探针(Mechanical prober) 撷取IC内部讯号。
利用Mechanical prober量测讯号时，将IC放到测试板提供测试所需之电压环境。一般IC内部讯号驱动能力较弱，可能推不动导线加上示波器的负载，造成方波变成三角波、DC准位降低等问题，可利用Active Probe来改善此现象。
关于宜特：
iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
免费服务热线：8009880501
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