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系统/模块类静电放电试验
静电放电(Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多数的电子组件或电子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress , EOS)破坏的主要因素。这种破坏会导致半导体组件以及计算机系统等，形成一种长久性的毁坏，因而影响集成电路(Integrated Circuits, ICs)的电路功能，而使得电子产品工作不正常。而静电放电破坏的产生，多是由于人为因素所形成，但又很难避免。
电子组件或系统在制造、生产、组装、测 试、存放、搬运等的过程中，静电会累积在人体、仪器、储放设备等之中，甚至在电子组件本身也会累积静电，而人们在不知情的情况下，使这些物体相互接触，因而形了一放电路径，使得电子组件或系统遭到静电放电的肆虐。所以产品需要有静电防护测试，因此依据IEC 61000-4-2所规范中有分为Contact Discharge、Air Discharge、HCP Contact Discharge、VCP Contact Discharge四种测试项目。
关于宜特：
iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。
ESD静电测试
